高速外部CLKサンプリングは条件が厳しく、まずターゲットが適しているかを判断する必要があります
当機のオプションLOSCLは100MHz超の広帯域性能があるので、アイパターンを測定できます。以下方法を説明します



このような測定ができます
図中のアイ（赤）は、約4ns。この程度あれば、外部CLKサンプルは可能と判断できます
波形を良く見ると、データに対してCLKが変動しています。トリガーがCLKではなくデータでかけているためです（以降方式を説明していきます）
従ってデータを基準にCLKのジッタがどの程度かを見ることになります


この測定法を説明します
オシロ等価サンプリングできるように固定パターンが発生できるようにする必要があります



１．正論理側をサンプリング


このサンプリングは、セーブしておきます

設定

主な注意点 ・間隔電圧=0.006 ・回数=3　※上書きモード ・高周波=150M

トリガー

データ側でトリガーをかけます（CLKでは条件移行許容間隔より早いので綺麗にかからないため） 開始保持を有効することで、先頭データ列を見つけています

２．負論理側をサンプリング


このサンプリングは、セーブしておきます

設定　＆　トリガー

３．正論理負と論理側を合成

この作業は手動操作になります
以上のサンプリングで、正論理、負論理、2パターンを作りましたがそれを合成します。この例は、きれいに上下対称になりますが、どこか1bitでも上下対称部があれば合成できます

まず、正論理のファイルをロードします

起動フォルダに、左のファイルがあるはずです。それをコピーして右のように保存します

次に、負論理のファイルをロードします
先ほどコピーしたファイルをリネームして、右にします

”コピー 〜 ”　をとり、最後の数字に3を足す（今回回数が3ですが、回数が5なら5を足す）

設定

回数を６に変更

これで波形画面に戻ると、合成画面になります（図中の赤表示はありません）



この状態で新たにセーブすればいつでも合成状態で見れます
この合成はいろいろ応用が効くと思います

合成の注意
１．メモリ幅は同じでサンプルする