最大分析周波数が連続CLKを対象にしなければならない意味を説明します




測定器は一般に上図のような構成になっています。
信号は、一度バッファ（オペアンプなど）を経由させ、デジタル処理します。
デジタル処理部は、自身の処理能力に依存した処理しか出来ませんが、それ以前に入力される信号状態で決まってしまいます。赤矢印部分。
バッファは、高周波特性、同時スイッチング特性などの影響を受けやすい部分です。
（青矢印はプローブ部分でここも重要。100MHzを少し超えると単線ケーブルでは物理的に入力できません。当社では同軸ケーブルなど高周波用があります）


ある実験用バッファの出力波形例を提示します。2.5V振幅200MHｚ。



この波形は、イネーブル以降からCLKが起動するとういうものです。

1CLK目こそ帯域を満足していますが、2ＣＬＫ目から急激に減衰し3CLK以降で減衰が一時均衡します。振幅は数分の1の0.7Vまで低下しています。しばらく後、最終的には0.4Vまで低下して均衡します。
普通のバッファだと100MHzを超えるとこの傾向が出てきます。

これをデジタル処理するとどうなるかというと、
1CLK目はCLKとしてHL と分析できます。しかし、それ以降は、振幅が足りなくなり波形抜けも起きます。場合によっては、HLどちらかに固定したように処理されます。

従ってこのバッファは、帯域幅200MHzの性能は持っていない訳です。
連続したCLKに対して、どこまで分析できる能力があるかが計測器の帯域幅です。