高速バッファLSBUF6、同軸プローブLBUF_PB、普通ICクリップLIC-M1使用
結果：
CLKカウント255回の分析で、波形の HL は一度もつぶれていません。Dutyもそこそこです
HL が1個でもつぶれると、1周期 6.7ns より大きいHまたはLのmax/minが検出されますが、ここでは1/2周期の 3.33ns±25%以内に収まっています
150MHz程度ならかなり分析に余裕はあります
上波形を表示倍率を下げて範囲を大きくしてどこ見ても、安定したDutyです
測定信号：250MHz、SSTL_18 1.8V
高速バッファLSBUF6、同軸プローブLBUF_PB、普通ICクリップLIC-M1使用
結果：
CLKカウント2689回の分析で、波形の HL は一度もつぶれていません。Dutyもそこそこです
HL が1個でもつぶれると、1周期 4.0ns より大きいHまたはLのmax/minが検出されますが、ここでは1/2周期の 2.0ns±40%以内に収まっています
250MHzになると分析はできますが、Dutyはあまり保障されません
測定信号：330MHz、SSTL_18 1.8V
高速バッファLHBUF5、同軸プローブLBUF_PB、ICクリップなし、直付け
結果：
CLKカウント1943回の分析で、波形の HL は一度もつぶれていません。
HL が1個でもつぶれると、1周期 3.0ns より大きいHまたはLのmax/minが検出されますが、ここでは1周期以内に収まっています
330MHzになると周波数は分析はできますが、Dutyはほとんど保障されないと理解下さい.。またCLKがつぶれることも観測されます。目安程度の目的でご使用下さい
ここまで分析できる測定器は、パーソナルレベルは完全に超越していると言えるでしょう
1CH以上の例
DDR2-400（200MHz) (旧LM02の例）
高速サンプリングの重要な注意
100MHzを超えると,測定条件が満たされないとHLがつぶれずにサンプリングすることは困難です。
●高速な信号はノイズが発生しやすいのが原則です。高速信号を複数同時サンプリングすることは困難です。今回1信号だけなので、HLがつぶれずにサンプリングできましたが、信号数が増えた時それが保証されるものではありません。
もし、ノイズの影響がある場合、中間のCHを空ける、信号本数を少なくする等の工夫をしてみて下さい。
●測定信号のGNDノイズの影響はかなり重要です。基板によっては、GNDノイズが大きいものがあり、その場合、低速なCLKでも正確にサンプリングすることは困難になります。
